XU-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm²，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。
產品特點
1.下照式設計?
可以快速方便地定位對焦樣品。?
2.高精密微型移動滑軌
快速精準定位樣品。
3.?微焦X射線裝置
最小檢測面積可達0.2mm²的樣品，可進行各類電鍍層膜厚檢測。?
高效率正比接收器即使測試0.2mm²的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
4.?變焦裝置算法
可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm。?
5.先進的EFP算法
多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測，都可以快、準、穩的做出數據分析。?
規格參數
| 電源 | 220VAC |
| 功率 | 95W（不含計算機） |
| 儀器重量 | 48KG |
| 儀器尺寸 | 550*360*410mm |
| 樣品艙尺寸 | 435*330*140mm |
| 樣品臺移動 | 高精密 XY 手動滑軌 |
可移動范圍 | 50mm*50mm |
| 放大倍數 | 光學 38-46X，數字放大 40-200X |
| 對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 |
| 樣品觀測 | 1/2.7 ”彩色 CCD，變焦功能 |
| 測量元素范圍 | Cl（17）~U（92） |
| 涂鍍層分析范圍 | Li（3）~U（92） |
長按屏幕識別二維碼
打開手機掃描二維碼
